取り外しBGA用テストソケット

DEBALL BGA Socket

基板から取り外したBGAの解析などを行いたい場合の方法として、リボールしてからの再実装がありますが、リワーク機を使っての取り外しは熱ストレスが3回(取り外し、リボール、再実装)と加わるため、正しい評価が行えない場合があります。

これはカスタムアタッチメント(ボールガイド)を設計したことで、取り外した状態(デボール)でのテストと、リボールした状態、つまり、LGAとBGA両方のテストが行えることができるソケットです。

一般的には下図のように、デボールした場合はLGAとしての専用接点(ポゴピン)を使ってのテスト、リボールした場合はBGAとしての専用接点が必要となるため、2種類のソケットが必要になります。

今回開発したこのソケットはソケットピンを狭ピッチ用、かつクラウン形(クラウントップ)にすることで、LGAでの接触不良を回避し、BGAとしても使うことを実現しました。このような兼用ソケットもご相談に応じて設計可能です。

BGA_LGA兼用ソケット

 

ご用命から納品まで:10週間

ICのボールピッチやパッド径によってはこの方法で設計ができない場合がありますので詳しくはお問い合わせください。